技术特点: 本项目属于中国科学院科研仪器创新研制项目,研发了225kV-高分辨三维显微CT系统设备。开发出具有优化系统设计与集成技术的设备,可完成高像质DR成像、高精度CT断层图像重建、海量数据处理与三维可视化过程。 主要指标: X射线源:225kV微焦点X光机; 探测器:数字平板探测器; 扫描模式:锥束3D-3代扫描; 有效扫描口径:100mm;射 线穿透最大厚度:35mmFe; 空间分辨率:5μm; 对比度灵敏度:1%。 应用状况: 提供快速、高质量成像,显示样品内部详尽的三维信息,用于无损检测和评估。广泛应用于医学、药学、材料学、工业、农业、工程、珠宝、古生物学和考古学等领域。可满足我国多个领域的质量检测、产品质量分析、故障诊断与结构分析需求,具有良好的应用前景。 ![]() |