项目介绍:该设备可用于激光通讯、激光加工、信息技术、光学加工、医疗及精密医疗器械等领域。已成功应用于我国多项大科学工程和重大实验的光束质量静/动态诊断、光学镜面面型和光学系统像差检测、以及光通过介质的动态波前误差测量等。利用本系统可以获得丰富的光束质量空间—时间信息,包括高达65阶各阶像差模式数据,并据此计算出远场光斑数据(PSF,OTF,环围能量,Strehl比等),是检测各类大型反射镜镜面面型的一种新型、多功能、高精度光学测量设备。特点: 1.体积小巧、成本低、操作方便 2.具有很强的抗环境干扰性能 3.测量参数全面、功能齐全 性能指标: 1) 测量波长:紫外、可见光和红外波段 2) 测量口径:根据用户要求配备 3) 子孔径阵列:从8×8到42×42方形,或用户需要的其他形状 4) 采样频率:最高2900Hz 5) 探测精度:可优于1/50波长 6) 探测光强:从光子计数水平的弱光到普通光强均可 ![]() |